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μ PD44646092A-A, 44646182A-A, 44646362A-A, 44646093A-A, 44646183A-A, 44646363A-A
4. V DD slew rate must be less than 0.1 V DC per 50 ns for DLL/PLL lock retention.
DLL/PLL lock time begins once V DD and input clock are stable.
It is recommended that the device is kept NOP (LD# = HIGH) during these cycles.
5. K input is monitored for this operation. See below for the timing.
K
or
TKC reset
K
TKC reset
6. Guaranteed by design.
7. Echo clock is very tightly controlled to data valid / data hold. By design, there is a ± 0.1 ns variation from
echo clock to data. The data sheet parameters reflect tester guardbands and test setup variations.
8. This is a synchronous device. All addresses, data and control lines must meet the specified setup
and hold times for all latching clock edges.
Remarks 1. This parameter is sampled.
2. Test conditions as specified with the output loading as shown in AC Test Conditions
unless otherwise noted.
3. Control input signals may not be operated with pulse widths less than TKHKL (MIN.).
4. V DD Q is 1.5 V DC.
Data Sheet M19960EJ2V0DS
19
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